A influência da incerteza de medição na carta de controle de valores individuais
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dc.contributor |
Universidade Federal de Santa Catarina |
pt_BR |
dc.contributor.advisor |
Donatelli, Gustavo Daniel |
pt_BR |
dc.contributor.author |
Silva, Janaína Helena Cardoso da |
pt_BR |
dc.date.accessioned |
2012-10-21T03:12:52Z |
|
dc.date.available |
2012-10-21T03:12:52Z |
|
dc.date.issued |
2003 |
|
dc.date.submitted |
2003 |
pt_BR |
dc.identifier.other |
197054 |
pt_BR |
dc.identifier.uri |
http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/86060 |
|
dc.description |
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. |
pt_BR |
dc.format.extent |
xvi, 99 f.| il., tabs., grafs. |
pt_BR |
dc.language.iso |
por |
pt_BR |
dc.publisher |
Florianópolis, SC |
pt_BR |
dc.subject.classification |
Medição |
pt_BR |
dc.subject.classification |
Metrologia científica |
pt_BR |
dc.subject.classification |
Incerteza |
pt_BR |
dc.subject.classification |
(Teoria da informacao) |
pt_BR |
dc.subject.classification |
Controle estatico de processos |
pt_BR |
dc.subject.classification |
Garantia de qualidade |
pt_BR |
dc.title |
A influência da incerteza de medição na carta de controle de valores individuais |
pt_BR |
dc.type |
Dissertação (Mestrado) |
pt_BR |
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