Recomendações para a implementação de ensaios de estresse térmico voltados à confiabilidade de hardwares eletrônicos

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dc.contributor	Universidade Federal de Santa Catarina	pt_BR
dc.contributor.advisor	Donatelli, Gustavo Daniel	pt_BR
dc.contributor.author	Luca, Luciana Veloso de	pt_BR
dc.date.accessioned	2012-10-21T18:36:00Z
dc.date.available	2012-10-21T18:36:00Z
dc.date.issued	2004
dc.date.submitted	2004	pt_BR
dc.identifier.other	212593	pt_BR
dc.identifier.uri	http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/87341
dc.description	Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial.	pt_BR
dc.description.abstract	A crescente competição mercadológica mundial e o atual cenário da indústria eletrônica no qual os produtos tornam-se cada vez mais complexos e os índices de qualidade e confiabilidade cada vez mais apertados, apontam para uma situação na qual a necessidade da utilização de técnicas que auxiliem na construção da confiabilidade de um produto desde as primeiras fases do seu	pt_BR
dc.format.extent	125 f.\| il.	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.publisher	Florianópolis, SC	pt_BR
dc.subject.classification	Metrologia científica	pt_BR
dc.subject.classification	Medição	pt_BR
dc.subject.classification	Industria eletronica	pt_BR
dc.subject.classification	Confiabilidade (Engenharia)	pt_BR
dc.title	Recomendações para a implementação de ensaios de estresse térmico voltados à confiabilidade de hardwares eletrônicos	pt_BR
dc.type	Dissertação (Mestrado)	pt_BR

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212593.pdf	2.580Mb	PDF