Sistemática de avaliação e melhoria do processo de medição com suporte de um laborátorio de serviços e assessoramento remoto

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Sistemática de avaliação e melhoria do processo de medição com suporte de um laborátorio de serviços e assessoramento remoto

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Title: Sistemática de avaliação e melhoria do processo de medição com suporte de um laborátorio de serviços e assessoramento remoto
Author: Salgado, João Vicente Falleiro
Abstract: A globalização da economia e a uniformização dos sistemas da qualidade adotados pelos diversos países, impôs às empresas brasileiras exigências superiores em termos de metrologia, qualidade e normalização. Processos de medição confiáveis no chão de fábrica, com pequenas variações, têm papel fundamental e determinante na garantia da qualidade e competitividade das empresas brasileiras, de modo a satisfazerem às práticas internacionais e conseqüentemente participem das redes globais de fornecedores. Neste trabalho, será abordado o tema Avaliação e Melhoria do Processo de Medição no ambiente industrial contemplando os aspectos da relevância dos processos de medição no contexto da gestão industrial e das dificuldades e deficiências dos métodos e da prática atual. Propõe-se neste trabalho , desenvolver uma Sistemática para análise e melhoria do processo de medição, disponibilizada com o emprego da Tecnologia da Informação, proporcionando confiabilidade, agilidade e melhor aproveitamento dos recursos despendidos pelas empresas neste processo. Para a validação da Sistemática desenvolvida foram realizados dois estudos de casos em duas empresas. Estes estudos , possibilitaram praticar a funcionalidade da Sistemática e comprovar sua viabilidade; identificar pontos para aperfeiçoamento e modificações necessárias. Os resultados alcançados dizem respeito aos resultados dos estudos de casos; à eficácia da Sistemática ; aos ganhos competitivos para empresa e a aplicabilidade da Sistemática.
Description: Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial.
URI: http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/87939
Date: 2004


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