Planejamento da inspeção na produção em lotes: uma aplicação em embalagens plásticas
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Title:
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Planejamento da inspeção na produção em lotes: uma aplicação em embalagens plásticas |
Author:
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Mantovani, Thiago
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Abstract:
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O controle da qualidade de um produto através da inspeção, seja ela de produto ou processo, é fundamental para a sobrevivência de toda e qualquer empresa, principalmente as que produzem em pequenos lotes. Empresas que produzem em pequenos lotes são, na grande maioria, pequenas e médias, e lidam em sua rotina com condições dinâmicas e de pouca previsibilidade, que dificultam o processo de melhoria contínua. Para estas empresas, fatores como a grande variabilidade de produtos, o tamanho dos lotes produzidos, que em alguns casos chegam a ser unitários, a sazonalidade de clientes, a variabilidade das ordens de produção e o quadro de pessoal reduzido, dificultam a prática da engenharia da qualidade e do planejamento da inspeção, ação fundamental para a avaliação do status da qualidade de um produto e seu processo. Neste trabalho foi realizada uma análise crítica do processo de planejamento e execução da inspeção em uma empresa do setor de transformados plásticos que produz em pequenos lotes, visando a implantação de um sistema integrado para garantia da qualidade na produção, capaz de prover agilidade ao planejamento da inspeção, armazenar informações sobre a qualidade dos produtos e fornecer aos diferentes níveis organizacionais, em tempo real, informações relacionadas ao desempenho dos processos da empresa. A partir da análise realizada e aplicação do sistema na linha de produção, foi possível propor e implementar melhorias no gerenciamento da inspeção da qualidade da empresa, viabilizando agilidade ao monitoramento dos dados de inspeção e à tomada de ação para correção dos desvios nos processos, enfatizando a necessidade de suporte às pequenas e médias empresas para executar o planejamento da inspeção em seus produtos e a respectiva análise de dados da qualidade para a prática da melhoria contínua. |
Description:
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Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. |
URI:
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http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/91432
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Date:
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2008 |
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